|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of Si and O Donor Impurities in Unintentionally Doped MBE-Grown GaN on SiC(0001) Substrate |
| Auteur: |
Tingberg, Tobias Ive, Tommy Larsson, Anders |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 46 (2017) nr. 8 pagina's 4898-4902 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |