|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Photoelastic Characterization of Residual Strain Distribution in Commercial Off-Axis SiC Substrates |
| Auteur: |
Fukuzawa, Masayuki Kanamoto, Kazuki |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 49 () nr. 9 pagina's 5161-5166 |
| Jaar: |
2020-05-20 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |