|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on thickness uniformity of Ta2O5 film evaporated on the inner-face of a hemispherical substrate |
| Auteur: |
Xu, Lingmao He, Yanchun Li, Kun Zhou, Hui Xiong, Yuqing |
| Verschenen in: |
Optoelectronics letters |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. 11 pagina's 673-677 |
| Jaar: |
2021-12-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Tianjin University of Technology, Tianjin |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |