Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
                                       Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
 
                             14 gevonden resultaten
nr titel auteur tijdschrift jaar jaarg. afl. pagina('s) type
1 A Bulk Built-In Voltage Sensor to Detect Physical Location of Single-Event Transients Zhang, Zhichao
2013
29 2 p. 249-253
artikel
2 CEP: Correlated Error Propagation for Hierarchical Soft Error Analysis Chen, Liang
2013
29 2 p. 143-158
artikel
3 Circuit Level Concurrent Error Detection in FSMs Kehl, Natalja
2013
29 2 p. 185-192
artikel
4 Detailed Analysis of Compilation Options for Robust Software-based Embedded Systems Bergaoui, S.
2013
29 2 p. 211-222
artikel
5 Editorial Agrawal, Vishwani D.
2013
29 2 p. 121
artikel
6 Guest Editorial Gizopoulos, Dimitris
2013
29 2 p. 125-126
artikel
7 Manipulation of Training Sets for Improving Data Mining Coverage-Driven Verification Romero, Edgar Leonardo
2013
29 2 p. 223-236
artikel
8 Novel Self-Timed, Pipelined Clock Scan Architecture Chakraborty, Kanad
2013
29 2 p. 241-247
artikel
9 On the Simulation of HCI-Induced Variations of IC Timings at High Level Heron, Olivier
2013
29 2 p. 127-141
artikel
10 Reliability-Aware Heterogeneous 3D Chip Multiprocessor Design Akturk, Ismail
2013
29 2 p. 177-184
artikel
11 Secure JTAG Implementation Using Schnorr Protocol Das, Amitabh
2013
29 2 p. 193-209
artikel
12 Self-Adaptive Fault Tolerance in Multi-/Many-Core Systems Bolchini, Cristiana
2013
29 2 p. 159-175
artikel
13 Soft Fault Classification of Analog Circuits Using Network Parameters and Neural Networks Kavithamani, A.
2013
29 2 p. 237-240
artikel
14 Test Technology Newsletter 2013
29 2 p. 123-124
artikel
                             14 gevonden resultaten
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland