|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 83 van 102 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal Conductivity Measurement of Thermoelectric Thin Films by a Versatility-Enhanced 2ω Method |
| Auteur: |
Okuhata, Ryo Watanabe, Kentaro Ikeuchi, Satoaki Ishida, Akihiro Nakamura, Yoshiaki |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 46 (2016) nr. 5 pagina's 3089-3096 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 83 van 102 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |