|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Crystallinity Evaluation and Dislocation Observation for an Aluminum Nitride Single-Crystal Substrate on a Wafer Scale |
| Auteur: |
Yao, Yongzhao Sugawara, Yoshihiro Ishikawa, Yukari Okada, Narihito Tadatomo, Kazuyuki |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 49 () nr. 9 pagina's 5144-5153 |
| Jaar: |
2020-02-28 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |