|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
A Comparison of Defects Between InAs Single Crystals Grown by LEC and VGF Methods |
| Auteur: |
Shen, Guiying Zhao, Youwen Sun, Jing Liu, Jingming Dong, Zhiyuan Xie, Hui Wang, Fenghua Yang, Jun |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 49 () nr. 9 pagina's 5104-5109 |
| Jaar: |
2020-03-28 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |