|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Power-Aware Optimization of SoC Test Schedules Using Voltage and Frequency Scaling |
| Auteur: |
Sheshadri, Vijay Agrawal, Vishwani D. Agrawal, Prathima |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 33 (2017) nr. 2 pagina's 171-187 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |